太陽光模擬器測試非晶硅薄膜需要注意的地方
更新時間：2024-12-02 點擊次數(shù)：2481
在我們使用太陽光模擬器來測試非晶硅薄膜時應(yīng)該注意哪些注意點呢？根據(jù)小編發(fā)現(xiàn)有許多的人都不知道測試非晶硅薄膜應(yīng)該注意哪些呢？
非晶硅太陽光模擬器電性能測試方法從原則到具體程序都和單晶硅、多晶硅太陽光模擬器電性能測試相同，但必須注意以下幾點區(qū)別，否則可能導(dǎo)致嚴重的測量誤差。
一、校準輻照度：應(yīng)選用恰當?shù)?、專用于非晶硅太陽光模擬器測試的非晶硅標準太陽光模擬器來校準輻照度。如果采用單晶硅或者多晶硅太陽光模擬器作為標準來校準輻照度，將會得到毫無意義的測試結(jié)果。當然，按照光譜失配的理論，如果所選的用的測試光源十分理想，那么，即使用單晶硅標準太陽光模擬器校準輻照度也能獲得正確的結(jié)果，當然，這個在一般生產(chǎn)或者實驗室是很難做到的。
二、光源：用于非晶硅太陽光模擬器電性能測試的太陽光模擬器的光源應(yīng)盡可能選用在300納米到800納米波長范圍內(nèi)，光譜特性非常接近AM1.5太陽光譜。
三、光譜響應(yīng)：太陽光模擬器的光譜響應(yīng)就是當某一波長的光照射在電池表面上時，每一光子平均所能收集到的載流子數(shù)。由于用不同材料和工藝制造的太陽光模擬器的光譜響應(yīng)差異很大，同時考慮電池的光譜響應(yīng)和光源的光譜分布這兩個因素就能夠得到更好的測量結(jié)果；更進一步來說，多結(jié)薄膜電池中各結(jié)的電流匹配也需要對每結(jié)的光譜響應(yīng)做出精確的測量。非晶硅太陽光模擬器的光譜響應(yīng)特性與所加偏置光及偏置電壓有關(guān)，在非標準條件下進行測試和換算時應(yīng)注意相關(guān)條件。
非晶硅的光譜響應(yīng)波長范圍為400納米到800納米，而單晶硅光譜響應(yīng)波長范圍為400納米到1100納米。由于模擬器用氙燈光源的光譜在800nm到1100nm的紅外區(qū)段的光譜比標準的AM1.5的光譜更為豐富。采用單晶硅標準件標定太陽光模擬器來測非晶硅太陽光模擬器，在800納米到1100納米波段對非晶硅太陽光模擬器電流沒有任何貢獻，但對單晶硅太陽光模擬器的電流有著非常大的貢獻，這就會產(chǎn)生嚴重的失配，導(dǎo)致非晶硅太陽光模擬器的電流大幅度被壓低，引起嚴重的測量誤差。
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